광물 시편의 표면 시험 준비는 현미경의 반사광으로 검사하는 금속 시편 준비와 기본적으로 비슷한 전처리

과정입니다. 반면에 박막 절단을 준비하는 것은 일반 적으로 약 30 마이크론을 광학현미경으로 투과하여

관찰하기 때문에 매우 얇은 시편을 준비해야 하며 이는 매우 특별한 장비와 기술이 요구됩니다. 광물 시편의

표면 시험 준비는 현미경의 반사광으로 검사하는 금속 시편 준비와 기본적으로 비슷한 전처리 과정입니다.

 
     

 

(주)진일퍼스텍  서울본사 : 153-783 서울시 금천구 가산동 481-10 벽산디지털밸리 2차 1322호

中國進一 :  B1, #7 Changfang Keji Chang Ye-Yuan Kaifa-Gu Yancheng City China

Tel : 02-2113-2525, 0033, 0989   Fax : 02-2113-2526  e-mail : jinil@hardness.co.kr 

대표 : 김건이  사업자등록번호 : 113-81-38359  Copyright Jinil 2014 1’stechⓒ All rights reserved.

 

  Family Site